光學平臺，又稱光學面包板、光學桌或實驗平臺，提供一個水平且穩(wěn)定的工作表面，為了確保科學實驗的順利進行，光學平臺通常會采用隔振措施，以避免外界干擾。光學平臺在制造時強調極高的平整度，臺面經過精密加工，臺面支撐在四個相互連接的氣囊上，以保證其保持水平，臺面上均勻排列著成正方形的螺紋孔，配合相應的螺絲，可以牢固固定光學元器件。這樣，光學設備搭建完成后，系統(tǒng)幾乎不會因外部擾動而發(fā)生變化；即便對臺面施加壓力，氣囊也能使其自動恢復到水平狀態(tài)。

類型

光學平臺根據功能可以分為固定型和可調型，同時也可以分為被動式和主動式。

應用

光學平臺廣泛應用于光學、電子、精密機械制造、冶金、航天、航空、航海、精密化工和無損檢測等多個領域，同時也是其他機械行業(yè)中精密試驗儀器和設備防振的重要組成部分。標準光學平臺的基本組成部分主要有：頂板、底板、側面精加工貼面、側板、蜂窩芯、密封杯。

構造

優(yōu)質的工作平臺和面包板應采用全鋼結構，頂部和底部使用5毫米厚的鋼板，中央部分則是厚度為0.25毫米的精密焊接鋼制蜂窩芯，蜂窩芯是通過精確的模壓工具制造，焊接的平墊片確保了其幾何間距的穩(wěn)定性，該蜂窩芯結構從頂部延伸至底部，沒有過渡層，使光學平臺的穩(wěn)固性更強，同時提升了熱穩(wěn)定性。

熱穩(wěn)定

熱穩(wěn)定性的關鍵在于鋼結構在各個方向上都具備對稱且均勻的特性，鋼部件在熱交換過程中膨脹和收縮的特性相似，因此能夠在溫度變化時保持良好的平整性，鋼制蜂窩核心結構從頂板延伸到底板，中間沒有使用塑料或鋁材的泄漏管理結構，這樣既保持了光學平臺的整體剛度，又避免了引入更高的熱膨脹系數，我們選擇鋼質側板而非木質側板，以消除因濕度變化引起的環(huán)境不穩(wěn)定因素。

自動化

自動化加工系統(tǒng)光學平臺和面包板的獨特之處在于引入了自動軌道機械進行啞光表面加工，這使得其表面比舊款產品更加光滑和平整，經過改良的表面拋光處理后，這些光學平臺在1平方米（約11平方英尺）的范圍內，表面平整度可以達到±0.1毫米（±0.004英寸），為安裝部件提供了無需磨具加工的接觸面。

大半徑角

光學平臺和面包板的設計可以采用大半徑的圓角，以減少實驗室內的尖銳邊緣，提高安全性。

支撐架

光學平臺由剛性且無隔振的支撐結構、被動隔振支撐結構以及主動自動調平支撐結構構成。

配件

光學平臺的其他配件有貨架、安裝支架、桌下擱板、振動隔離裝置、支持可安裝支桿的附件、可調光學爬升架的安裝座、地震抑制裝置、光學面包板罩、遮光材料和磁性薄片等。

意義

當前科學界的實驗要求更為精確的計算和測量，因此，有效隔離外部環(huán)境和干擾的設備對實驗結果的準確性至關重要，同時，能夠穩(wěn)固各種光學元器件和顯微鏡成像設備的光學平臺已成為科研實驗中不可或缺的工具，光學平臺的主要目標在于消除其上任意多個部件之間的相對位移。

阻尼

光學平臺或面包板的一個重要特性是其共振頻率，共振頻率與振幅之間存在負相關關系，因此應盡量提高共振頻率，以降低振動強度，這些光學平臺和面包板在特定頻率范圍內會發(fā)生振動，為了提升性能，需要針對不同尺寸的光學平臺和面包板進行阻尼效果的優(yōu)化，光學平臺的阻尼需要進行多項測試，以優(yōu)化其厚度與面積之間的比例，標準的大面積平臺（邊長至少10英尺或3米）的厚度為12.2英寸（310毫米），以提高其穩(wěn)定性，對于小面積的光學平臺，其厚度可為8.3英寸（210毫米）或12.2英寸（310毫米），且可根據需求定制更大的尺寸。

柔量

在光學平臺中，常用的振動響應傳遞函數是柔量，對于恒定（靜態(tài)）力，柔量表示線性或角度偏移與施加的外力之間的比率，而在動態(tài)力（振動）影響下，柔量則指激勵振幅（無論是角度還是線性）與振動力振幅之間的比率，光學平臺的撓度可以通過其表面部件位置的變化體現出來，因此，根據定義，柔量值越低，光學平臺就越接近其主要設計目標即最小化撓度，柔量還與頻率有關，其測量單位是單位力下的位移（米/牛頓）。

測量方法

在光學平臺或面包板的表面施加已知外力，使用脈沖錘進行，同時在表面貼上傳感器以測量產生的振動，探測器發(fā)出的信號經過分析儀讀取，并用于生成頻率響應譜（柔量曲線），在光學平臺的研發(fā)過程中，記錄了平臺表面多個點的柔量曲線，通常發(fā)現四個角的柔量值最高，因此，上海佰斯特發(fā)布的柔量曲線和數據都是基于在平臺四個角的平傳感器測得的結果，這也意味著這些數據展示了最不理想的狀態(tài)。

單測數據

所有產品都需要經過獨立測試，并附帶獨立的測試數據報告和柔量曲線，這種方法能夠提供比使用單一尺寸的柔量曲線表示所有產品特性更為詳盡的數據，柔量曲線和數據是通過在光學平臺四個角上使用傳感器進行測量的，因此能夠反映出最不理想的測試結果。

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